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                  量子效率測試系統SCS1000

                  • 產品型號:
                  • 產品時間:2024-03-19
                  • 簡要描述:量子效率測試系統SCS1000是卓立漢光*新研發的高性能,高自動化的光譜響應度/ 量子效率測試系統,適用于各種材料的太陽能電池,光電探測器的光電測試。適合高校,研究所和企業的研發及生產品質管理使用。相比其他產品,該系統自動化程度大幅提升,一鍵式啟動,放置樣品后,其他所有操作流程都可以在軟件中實現自動控制,包括不同測試模式軟件自動切換,大幅提升測試效率。
                  • 產品介紹

                  SCS1000量子效率測試系統


                  SCS1000 是卓立漢光*新研發的高性能,高自動化的光譜響應度/ 量子效率測試系統,適用于各種材料的太陽能電池,光電探測器的光電測試。適合高校,研究所和企業的研發及生產品質管理使用。相比其他產品,該系統自動化程度大幅提升,一鍵式啟動,放置樣品后,其他所有操作流程都可以在軟件中實現自動控制,包括不同測試模式軟件自動切換,大幅提升測試效率。系統采用一體化設計,體積小,不占用光學平臺等空間,且自帶移動滾輪,可以輕松實現平地位置隨意移動。

                  量子效率測試系統SCS1000主要功能:

                  ■ 光譜響應度(Spectral Responsivity,SR)

                  ■ 外量子效率(External Quantum Efficiency,EQE)

                  ■ 光子電子轉換效率(Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency,IPCE)

                  ■ 內量子效率(Internal Quantum Efficiency,IQE)

                  ■ 反射率(Reflectance,R)

                  ■ 透射率(Transmittance,T)

                  ■ 線性動態范圍(Linear Dynamic Ranges)

                  ■ 積分短路電流密度(Integrated JSC)

                  ■ 光束誘導電流(Light Beam Induced Current,LBIC)

                  ■ 量子效率制圖(QE Mapping)

                  ■ 反射率制圖(Reflectance Mapping)

                  ■ 光束誘導電流制圖(LBIC Mapping)

                  系統特點

                  ■ 高度自動化測試流程

                  ■ 符合IEC 60904-8國際標準

                  ■ 測量結果重復性高

                  ■ 系統最小光斑直徑可小于1mm

                  ■ 高穩定性高強度光源

                  ■ 光路監控設計

                  ■ 快速導入參數功能

                  ■ 儀器尺寸:800mmX900mmX1400mm

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                  量子效率測試系統SCS1000適用范圍

                  適用于各種材料太陽能電池的測試 :

                  單晶硅、多晶硅、非晶硅、染料敏化電池、量子點電池、 有機太陽能電池、聚合物太陽能電池、鈣鈦礦太陽能電池等。

                  適用于多種結構太陽能電池的測試 :

                  單結、多結、PERC/HIT/IBC 等結構、高聚光類型、薄膜與正反結構等。

                  高穩定性光源,系統重復性好

                  光源穩定性是影響系統測試結果重復性的重要因素,針對不同光譜響應范圍的光電器件測試,系統提供了高穩定性的氙燈、溴鎢燈探測光源,穩定性高于 99%,確保測量結果的高重復性和準確性。


                  專業光學設計

                  全反射光路設計,優化光斑質量。寬光譜范圍的光學設計透射光路存在影響光束質量和光斑品質的重要因素色差,色差源自于不同波長的單色光在光學材料中的折射率不同,波長范圍越寬,色差越明顯,使不同波長感光的探測器面發生變化。而在反射式光學系統中根本不涉及折射,所以不存在色差的問題。色差會改變探測光斑的大小。

                  由于探測器表面不均勻,會引入系統偏差,尤其是測量小面積探測器時,光斑變大照射到光敏面以外時,測量結果會產生很大的偏差。


                  監視光路

                  采用監視光路,配合相機進行可視化控制,可清楚觀察光斑,樣品定位精準。且可以放大觀察樣品,觀察微小細節。


                  自動化功能


                  自動化功能包含多個控制模塊,可以在軟件設置界面選擇控制,測試過程中根據測試需求自動控制。


                  ■ AC/DC模式自動切換;

                  ■ 標準探測器自動切換;

                  ■ 光斑尺寸自動切換;

                  ■ 激光光路/IPCE功率光路自動切換;

                  ■ 實時顯示信號大??;

                  ■ 斬波頻率設置;

                  ■ 波長位置自由切換;


                  功能曲線


                  功率曲線


                  產品選型

                  SCS1000-AC-A

                  本底電壓101-V,EQE的測試極限10-6,濾除直流功能

                  SCS1000-AC-B

                  本底電壓101-V,EQE的測試極限10-5

                  SCS1000-AC-C

                  本底電壓101-V,EQE的測試極限10-4,濾除直流功能

                  SCS1000-AC-D

                  本底電壓101-V,EQE的測試極限10-3

                  SCS1000-DC-A

                  量程10nA-1A,分辨率10fA,最大200V電壓輸出,暗電流:10pA,20W輸出功率

                  SCS1000-DC-B

                  量程10nA-1A,分辨率10fA,最大200V電壓輸出,暗電流:10pA,40W輸出功率

                  SCS1000-DC-C

                  量程10nA-1A,分辨率10fA,最大200V電壓輸出,暗電流:10pA,40W輸出功率,雙通道

                  SCS1000-DC-D

                  量程1nA-1A,分辨率0.1fA,最大200V電壓輸出,暗電流:1pA,40W輸出功率

                  SCS1000-DC-E

                  量程1nA-1A,分辨率0.1fA,最大200V電壓輸出,暗電流:1pA,40W輸出功率,雙通道

                  SCS1000-DC-F

                  量程100uA-1A,分辨率50pA,最大200V電壓輸出,20W輸出功率,暗電流:1nA

                  OPE-B2

                  近紅外標準探測器,900-1700nm 標定,間隔10nm,帶標定證書

                  OPE-B3

                  硅標準探測器,300-1100nm 標定,間隔5nm,帶標定證書

                  OPE-B3-UV

                  硅標準探測器,200-1100nm 標定,間隔5nm,帶標定證書

                  OPE-B4

                  近紅外標準探測器,900-2500nm 標定,間隔10nm,帶標定證書

                  QE-F4

                  探針樣品臺(35mm*35mm)

                  QE-F6-C-ITC

                  3M夾樣品臺

                  QE-F6-H系列

                  氣體密封背電極樣品臺

                  QE-F6-D系列

                  背電極樣品臺


                  OPE-F4-20

                  20 微米真空吸附探針組件

                  1,磁力吸附探針座2個,行程12mm,調節精度101-m

                  2,漏電精度小于100PA

                  3,探針直徑201-m


                  OPE-F4-10

                  10 微米真空吸附探針組件

                  1,磁力吸附探針座2個,行程12mm調節精度0.71-m

                  2,漏電精度小于1PA

                  3,探針直徑101-m


                  探針樣品臺


                  針對太陽能電池的量子效率測試、伏安特性測試,卓立漢光為了方便廣大客戶使用,設計了多種探針樣品臺,以供用戶選擇。


                  型號

                  功能以及說明

                  主要應用

                  最大適用樣品尺寸

                  其他說明

                  QE-F4

                  兩組三維可調探針,底座為無氧銅電極

                  QE測試

                  30mm*30mm

                  適用于正面電極和反面電極兩種測量方式

                  QE-F6-C

                  3M測試夾,位置二維可調

                  IV/QE測試

                  100mm*100mm

                  適用于燃料敏化類的三明治結構電池


                  QE-F6-D

                  背電極樣品臺,探針位置固定, 通過選擇開關選擇測量不同電池


                  IV/QE測試


                  35mm*35mm

                  適用于背面電極樣品電池,需要根據樣品大小和樣 品位置定制


                  QE-F6-H

                  背電極氣體密封樣品臺,探針位置固定, 通過選擇開關選擇測量不同電池


                  IV/QE測試


                  35mm*35mm

                  適用于背面電極樣品電池,根據樣品大小和樣品位 置定制,可以實現氣體循環


                  QE-F6-C-ITC

                  電極在同一個面上,且間距為 2.54mm的多個 子電池的樣品,總共8個接觸電極, 通過選擇開關選擇測量不同電池


                  IV/QE測試


                  35mm*35mm


                  適用于背面電極樣品電池,根據樣品大小和樣品位 置定制,可以實現氣體循環





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